光束光斑分析儀簡介

松盛光電自主研發(fā)的光束光斑分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案，并支持多應用開發(fā)。光束質量分析儀裝置一體化設計，配套衰減方案設計，支持實時曝光及增益調節(jié)。適用半導體激光器，固體激光器，光纖激光器，超快激光器，激光測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣，性價比很高，得到大量客戶認同?，F公司研發(fā)部可根據客戶不同需求進行模塊化定制。

光束光斑分析儀產品特點：

1. 可選超寬光譜多波長系列產品，覆蓋紫外到長波紅外波長范圍。

2. 較寬的光斑直徑測量范圍：光斑直徑范圍可滿足目前市場大部分的光斑產品范圍，部分產品支持更小光斑拓展。

3. 光斑分析儀一體化設計，配套衰減方案設計：設備自帶吸收衰減裝置，測低功率的毫瓦級激光光斑，也可根據不同功率激光光斑測試需求，提供可選的衰減方案，無需準備其他配件即可快速測量。

4. 軟件自主開發(fā)，可提供底層通訊協議.

5. 高性價比，可代替進口激光光束質量分析儀，實現激光光斑檢測及測試應用.

光束光斑分析儀產品光譜覆蓋范圍：

需求定制：可為客戶定制不同需求的光斑分析儀，滿足不同的激光光束直徑和激光功率測試需求。