Beamfiler LWIR系列光斑分析儀是長(zhǎng)波紅外范圍內(nèi)激光器光斑檢測(cè)方案。Beamfiler LWIR系列光斑探測(cè)相機(jī)擁有17微米的像素、8 μm-14μm的波長(zhǎng)范圍和一個(gè)集成快門(mén),具有無(wú)可比擬的光束擴(kuò)展能力。此款相機(jī)具有非常高的靈敏度,集成的快門(mén)可以進(jìn)行全自動(dòng)的非均勻性校正。
LWIR系列激光光束光斑分析儀產(chǎn)品圖片
LWIR系列激光光束光斑分析儀產(chǎn)品特點(diǎn):
1.可測(cè)量激光光斑形態(tài),具有豐富的圖像處理功能。
2.波長(zhǎng)響應(yīng)8 μm-14μm
3.像素大小17 μm, 集成式快門(mén)
4.數(shù)據(jù)接口GigaEthernet
LWIR系列激光光束光斑分析儀典型應(yīng)用:
1.LWIR/CO2激光輪廓分析
2.產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控
3.現(xiàn)場(chǎng)分析CO2激光器和激光系統(tǒng)
4.光學(xué)組裝和儀器對(duì)準(zhǔn)
5.光束漂移記錄
6.高分辨率紅外成像
LWIR系列激光光束光斑分析儀產(chǎn)品型號(hào):
相機(jī)型號(hào)
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波長(zhǎng)
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像素
(μm)
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分辨率
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靶面尺寸 (mm)
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光斑檢測(cè)大小
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Px
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Py
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Dx
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Dy
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MIN
(μm)
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MAX(mm)
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BFL1705G
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8µ-14µm
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17
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400
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300
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6.8
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5.1
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170.0
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4.3
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BFL1708G
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8µ-14µm
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17
|
640
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512
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10.9
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8.7
|
170.0
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7.4
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光束光斑分析儀簡(jiǎn)介
松盛光電自主研發(fā)的光束光斑分析儀可實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用。為客戶(hù)提供定制光束質(zhì)量分析一體化設(shè)計(jì)解決方案,并支持多應(yīng)用開(kāi)發(fā)。光束質(zhì)量分析儀裝置一體化設(shè)計(jì),配套衰減方案設(shè)計(jì),支持實(shí)時(shí)曝光及增益調(diào)節(jié)。適用半導(dǎo)體激光器,固體激光器,光纖激光器,超快激光器,激光測(cè)距等領(lǐng)域。目前已作為成熟產(chǎn)品在市場(chǎng)推廣,性?xún)r(jià)比很高,得到大量客戶(hù)認(rèn)同?,F(xiàn)公司研發(fā)部可根據(jù)客戶(hù)不同需求進(jìn)行模塊化定制。
光束光斑分析儀產(chǎn)品特點(diǎn):
1. 可選超寬光譜多波長(zhǎng)系列產(chǎn)品,覆蓋紫外到長(zhǎng)波紅外波長(zhǎng)范圍。
2. 較寬的光斑直徑測(cè)量范圍:光斑直徑范圍可滿(mǎn)足目前市場(chǎng)大部分的光斑產(chǎn)品范圍,部分產(chǎn)品支持更小光斑拓展。
3. 光斑分析儀一體化設(shè)計(jì),配套衰減方案設(shè)計(jì):設(shè)備自帶吸收衰減裝置,測(cè)低功率的毫瓦級(jí)激光光斑,也可根據(jù)不同功率激光光斑測(cè)試需求,提供可選的衰減方案,無(wú)需準(zhǔn)備其他配件即可快速測(cè)量。
4. 軟件自主開(kāi)發(fā),可提供底層通訊協(xié)議.
5. 高性?xún)r(jià)比,可代替進(jìn)口激光光束質(zhì)量分析儀,實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用.
光束光斑分析儀產(chǎn)品光譜覆蓋范圍:
需求定制:可為客戶(hù)定制不同需求的光斑分析儀,滿(mǎn)足不同的激光光束直徑和激光功率測(cè)試需求。